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        同惠阻抗分析儀

        同惠阻抗分析儀

        產(chǎn)品型號: TH2828

        所屬分類:同惠元件參數(shù)測試儀器

        產(chǎn)品時間:2024-05-09

        簡要描述:同惠阻抗分析儀TH2828,基本精度:0.05%;20Hz-1MHz連續(xù)頻率;LCD顯示;四端對測試端口,TH2828已經(jīng)停產(chǎn),用TH2838替代.

        詳細說明:

        同惠阻抗分析儀TH2828,基本精度:0.05%;20Hz-1MHz連續(xù)頻率;LCD顯示;四端對測試端口,TH2828已經(jīng)停產(chǎn),用TH2838替代.

         

        TH2828/TH2828A/TH2828S是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求,特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。TH2828/TH2828A/TH2828S是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計和開發(fā)以及材料(電子材料和非電子材料)的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。TH2828/TH2828A/TH2828S以其性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
         

        同惠阻抗分析儀TH2828

        性能特點
        阻抗測量范圍寬的自動平衡電橋技術(shù)
        四端對端口配置有效消除測試線電磁
        基本準(zhǔn)確度0.05%
        高達1MHz的測量頻率范圍
        交流測試信號可編程至20V(選件)
        高達30次/秒的測量速度
        六位讀數(shù)分辨率
        可測量22種阻抗參數(shù)組合
        30 Ω, 100 Ω可選信號源輸出阻抗
        10點列表掃描測試功能
        曲線掃描分析功能(僅TH2828S)
        內(nèi)部可編程直流偏置±40V/100mA(選件)
        外置偏流源至40A
        電壓或電流的自動電平調(diào)整(ALC)功能
        V、I測試信號電平監(jiān)視功能
        20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取
        內(nèi)建比較器,10檔分選及計數(shù)功能
        RS232C,GPIB,HANDLER接口
        2m/4m測試電纜擴展(選件)
        USB接口供數(shù)據(jù)外存(TH2828A無)
        320×240點陣大型圖形LCD顯示
        中英文可選操作界面

         

        同惠阻抗分析儀TH2828

        • 應(yīng)用
        • 無源元件

            電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

          半導(dǎo)體元件

            LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

          其它元件

            印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估

          介質(zhì)材料

            塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

          磁性材料

            鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估

          半導(dǎo)體材料

            半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:

          液晶單元

            介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

        LCR自動平衡測試理論是美國HP公司一九八幾年提出來的,這是全*好測試方法。自動平衡保證全頻段測試的精度:

        普通電橋是使用運放采樣信號,運放缺點輸入端有偏置電流,流過被測件跟流過采樣電阻的電流不一致,電流的誤差是取消不了的,清零是沒用的。

        自動平衡不采用運放, 而采用FPGA加高速ADC采樣,另外做了一個信號源同時加在被測件上,來抵消普通LCR這種誤差,用這種方法能保證更高的測試精度跟測試范圍。

        目前市面上只有同惠的LCR采用自動平衡測試原理。

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         



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