電路板邏輯掃描探測(cè)儀

IST5700D是由美國(guó)IST公司開發(fā)研制的一種小型邏輯在線測(cè)試儀，由于該設(shè)備體積小、功能
強(qiáng)、價(jià)格較低，不需要任何附加的軟件及專業(yè)培訓(xùn)就可以掌握使用特點(diǎn)，因此對(duì)一些小型維
修網(wǎng)點(diǎn)和檢測(cè)站的維修排障和調(diào)試特別適用。
性能特點(diǎn)：“參考板”和“被測(cè)板”，的數(shù)據(jù)自動(dòng)逐點(diǎn)比較功能。  
zui多具有4個(gè)獨(dú)立輸入端口，每個(gè)端口可檢測(cè)80通道，通過插接不同的測(cè)試夾，可對(duì)DIP，
PLCC,SO和SOJ封裝形式的器件進(jìn)行檢測(cè)。
內(nèi)置通用邏輯狀態(tài)指示器，外接通用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭，自動(dòng)調(diào)節(jié)量程的3位半數(shù)字電壓
表（DVM），均可對(duì)被測(cè)管腳的邏輯狀態(tài)進(jìn)行指示，并可通過顯示屏顯示電壓值。
低失真，高帶寬的模擬緩沖器，可將被測(cè)管腳的信號(hào)通過接口接到示波器或其它測(cè)試設(shè)備
上。便于更加仔細(xì)的觀察波形，顯示測(cè)量結(jié)果，幫助維修人員快速分析故障點(diǎn)。
備有后備電池的CMOS RAM，可以存儲(chǔ)由用戶編制的測(cè)試點(diǎn)探測(cè)順序的程序編制，存儲(chǔ)和調(diào)出
都非常容易。
借助脈沖存儲(chǔ)器捕捉連續(xù)的時(shí)鐘脈沖行測(cè)試，也能單純傳輸信號(hào)，進(jìn)行非實(shí)的管腳處自動(dòng)停
下或報(bào)警，比傳統(tǒng)的邏輯探測(cè)或示波器探更加快捷可靠。
應(yīng)用：它具有強(qiáng)大的比較功能，可針對(duì)被測(cè)板和標(biāo)準(zhǔn)板選擇實(shí)時(shí)或非實(shí)時(shí)的比較，通過變換
不同管腳數(shù)的測(cè)試夾，對(duì)兩塊板子上的同種芯片快速測(cè)試，也可用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭逐
點(diǎn)測(cè)試。
另外，它可以針對(duì)基于微處理器的系統(tǒng)板進(jìn)行測(cè)試。用戶只要把被測(cè)板與標(biāo)準(zhǔn)板的CPU時(shí)鐘
和復(fù)位線互連在—起，使兩板同步，就可按照對(duì)普通板測(cè)試的步驟進(jìn)行。在兩相同板上使用
相同的EPROM診斷，能更好的幫助整板測(cè)試。
由于以上優(yōu)點(diǎn)，它廣泛應(yīng)用在電子測(cè)試測(cè)量，電子維修保養(yǎng)，檢驗(yàn)等領(lǐng)域，大大提高檢測(cè)的
準(zhǔn)確性及效率，達(dá)到了事半功倍的效果。因此，受到了越來越多的專業(yè)與非專業(yè)人士的青
睞。愿它也成為您的好幫手。

參數(shù)
規(guī)范
夾具探頭 
輸入阻抗 通道“ON” -1兆歐
通道“ OFF”-90兆歐
過載保護(hù) +/15V 連續(xù) +/18V 2分鐘
（測(cè)試儀必須在電源閉合狀態(tài)下）
輸出端口 zui大輸出電流：+80mA -45mA
zui大輸出電壓擺幅： +15.5V 9.5V
輸入zui小脈寬：帶地線夾 -50nS
W/O地線夾-75nS
zui大頻率響應(yīng)：20MH2
可探測(cè)zui小三態(tài)脈寬 TTL -1us
CMOS-10us
 
手持邏輯筆 
輸入阻抗： 兆歐
輸入過載保護(hù)： +/-150VDC，+/-75VAC
zui大頻率響應(yīng)： 20MH2
輸入zui小脈寬 75nS（帶小型地線夾）
脈沖模式： 每按一次鍵產(chǎn)生一個(gè)脈沖
脈沖發(fā)生器阻抗： 在活動(dòng)狀態(tài)時(shí)為2歐姆
關(guān)斷狀態(tài)下為 1.5兆歐
脈沖發(fā)生器短路保護(hù)：連續(xù)
脈沖發(fā)生器過載保護(hù)： +/-75V DC連續(xù)
+/-125V DC一分鐘
實(shí)時(shí)比較延遲： 范圍1-200 nS,+/-10％
范圍 2-1000ns,+/-10％
系統(tǒng)參數(shù) 
重量：凈重 5.5公斤總重8公斤
尺寸： 11.4 X 43.7 X 30cm
溫度： 0—55℃
電壓： 115VAC或220VAC+1-10％
50—60HZ
功耗： 30W
 
型號(hào)
IST5700DⅡ 
IST5700D Ⅳ 
通道
40 X 2路通道
40 X 4路通道
選件
40通道測(cè)試探頭
價(jià)格
37,800
43,000
產(chǎn)地
美國(guó) IST